普通來說，器件的失效率具有圖14.1所示的傾向。反映這種傾向的曲線叫做澡盆曲線。澡盆曲線，如圖所示能夠分為早期失效、偶然失效、耗損失效三個階段。
1．早期失效
制造廠家在器件出廠時要進(jìn)行全數(shù)檢查，只要電學(xué)特性和外觀合格者才能進(jìn)入市場。但是也難免有差的產(chǎn)品混入市場。經(jīng)過疲倦實驗的產(chǎn)品，短時間運(yùn)用出現(xiàn)的失效能夠認(rèn)為是器件本身的制造質(zhì)量問題。例如，芯片上布線斷開，封裝時引線焊接不牢，硅襯底或擴(kuò)散層發(fā)作結(jié)晶缺陷，晶體管的電路閾值奇妙地偏離，器件制造時附著上灰塵、人的汗或唾液，隨著時間推移惹起性能失效等，都是早期失效的緣由。
早期失效經(jīng)過停止老化或者高溫通電狀態(tài)的牢靠性加速實驗（～168小時）能夠降低。出廠檢查時或者按用戶請求將各種電子元器件組裝成設(shè)備出廠行進(jìn)行這些檢查，能夠減少早期失效。
2．偶爾失效
器件的失效形式?jīng)]有規(guī)律性，或者說沒有連續(xù)性。呈現(xiàn)在失效率很低的穩(wěn)定期，要進(jìn)一步降低失效率有艱難。有時會由于用戶的運(yùn)用環(huán)境偶爾呈現(xiàn)器件過載惹起，要辨別失效緣由有艱難。處理方法是確保器件本身設(shè)計的堅韌性（鞏固性，設(shè)計規(guī)則上留有一定的余量）。
但是要進(jìn)步堅韌性就要增大芯片尺寸。從集成化（芯片尺寸）／成本的角度看是不利的。
3．耗損失效
相當(dāng)于器件的壽命。設(shè)計的堅韌性影響很大。半導(dǎo)體產(chǎn)品假如在四周環(huán)境（溫度、濕度等）以及電學(xué)特性額定值以內(nèi)運(yùn)用的話，壽命應(yīng)該在10年以上。
定制產(chǎn)品或特定用處的ASSP(Application Specific Standard Product，專用定制產(chǎn)品)中，往往是廠家與用戶意見一致地決定器件可靠性水平的目標(biāo)值。
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